[发明专利]一种基于小角度脉冲激发的Xe分子探针浓度定量检测方法在审

专利信息
申请号: 202211584432.2 申请日: 2022-12-09
公开(公告)号: CN116046830A 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 周欣;蒋卫平;郭茜旎;杨玉琪;孙献平;叶朝辉 申请(专利权)人: 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
主分类号: G01N24/08 分类号: G01N24/08
代理公司: 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 代理人: 庞宽
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于小角度脉冲激发的Xe分子探针浓度定量检测方法,包括以下步骤:配制待测浓度Xe分子探针溶液;在待测溶液中通入超极化Xe混合气,停止通气并静置时间t静置;设置小角度激发脉冲序列实验参数并采样,获得一系列溶解态Xe信号强度;基于上一步骤获得的数据,根据公式拟合待测溶液中Xe分子探针结合Xe与溶解态Xe浓度比fr;根据公式计算待测溶液中Xe分子探针浓度。本发明能降低现有技术中多次通气时Xe信号波动对Xe分子探针浓度定量准确性的影响,并减少采样所需时间。
搜索关键词: 一种 基于 角度 脉冲 激发 xe 分子 探针 浓度 定量 检测 方法
【主权项】:
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