[发明专利]一种双色超短脉冲激光延时测量方法及装置在审
| 申请号： | 202211585616.0 | 申请日： | 2022-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN115790868A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 刘柯阳;曹华保;付玉喜;王虎山;黄沛;王向林;林华;王屹山 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 冯素玲 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种双色超短脉冲激光延时测量方法及装置，用于解决现有的双色超短脉冲激光延时测量方法无法获得脉冲间零延时位置导致无法精准实现脉冲延时的测量、标定及锁定的技术问题。本发明的测量方法为：对平行入射的第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光进行光谱调制；将光谱调制后的第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光聚焦入射至非线性晶体，通过非线性晶体产生一束测量光；对产生的测量光准直后进行探测，获得测量光光斑两侧包络的强度差以及测量光光斑两侧包络的强度差随延时变化的曲线图；通过探测测量光光斑两侧包络的强度差，反演获得第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光的零延时位置以及相对延时信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超短 脉冲 激光 延时 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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