[发明专利]一种用于颗粒污染物显微图像识别的基准数据集生成方法在审

专利信息
申请号: 202211589632.7 申请日: 2022-12-12
公开(公告)号: CN116416614A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 崔志英;杨洁;毛磊;邱元芳;郑驰;毛昊阳 申请(专利权)人: 宁波永新光学股份有限公司
主分类号: G06V20/69 分类号: G06V20/69;G06V10/776;G06N20/00
代理公司: 宁波奥圣专利代理有限公司 33226 代理人: 程晓明
地址: 315040 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种用于颗粒污染物显微图像识别的基准数据集生成方法,特点是:1)生成图像基础数据集;2)得到图像缩小数据集;3)得到图像旋转数据集;4)得到颗粒缩小数据集;5)得到均匀光照数据集;6)得到非均匀光照数据集;7)对所有数据集按类别和尺寸进行数量统计分析,得到各个数据集包含的颗粒个数,每个颗粒的类别和尺寸;8)对所有数据集进行准确率分析,得到准确率对照数据,从而生成由准确率对照数据构成的用于颗粒污染物显微图像识别的基准数据集,优点在于通过对图像进行特定的处理,并经过准确率分析,从而生成由准确率对照数据构成的基准数据集,能够为评估颗粒污染物检测识别方法的性能提供参考依据。
搜索关键词: 一种 用于 颗粒 污染物 显微 图像 识别 基准 数据 生成 方法
【主权项】:
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