[发明专利]一种基于机器视觉的键帽表面颗粒缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202211601776.X 申请日: 2022-12-13
公开(公告)号: CN116008294A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 薛小雷 申请(专利权)人: 无锡微准科技有限公司
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892;B07C5/342;B07C5/36
代理公司: 合肥铭辉知识产权代理事务所(普通合伙) 34212 代理人: 李竞
地址: 214000 江苏省无锡市新吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于机器视觉的键帽表面颗粒缺陷检测方法,属于机器视觉检测和机电一体化领域,包括上料机械手,其中上料机械手自动抓取键帽托盘上料,同时键帽整齐排列在键帽托盘中,通过除静电离子风棒去除静电离子后,经由环形导轨运输线输送至视觉检测工位;同时视觉检测相机采集键帽托盘图像并传输给工控机,并通过工控机安装的软件根据所提出的图像处理算法检测键帽表面颗粒缺陷,判断产品是否合格,并根据判断结果对剔废二轴机械手的控制器发出指令;本发明通过机器视觉检测方法识别键盘中键帽表面颗粒缺陷,解决了因人工长时间目检带来的视觉疲劳而导致检测准确率、效率低,错检、漏检率高的问题,降低了检测者的工作强度。
搜索关键词: 一种 基于 机器 视觉 表面 颗粒 缺陷 检测 方法
【主权项】:
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