[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211605549.4 | 申请日： | 2022-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN115964277A | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 刘俊启;谷铁峰;姬路涛 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京易光知识产权代理有限公司 11596 | 代理人： | 王姗姗;王英 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。涉及计算机技术领域，尤其涉及应用程序的测试领域，可应用于智能硬件、人工智能、物联网等领域。具体实现方案为：获取服务器响应于第一业务请求返回的第一请求结果，第一请求结果包括第一协议数据和第一资源数据；对第一协议数据和第一资源数据进行异常处理，生成第一数量组第一测试数据；响应于第一测试请求，将一组第一测试数据发送给待测应用程序的业务层，以获取业务层的第一响应结果，直至获取到第一数量个第一响应结果；根据第一数量个第一响应结果，获得业务层的第一测试结果。采用本公开可以降低应用程序的测试成本，同时提高测试覆盖度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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