[发明专利]一种ZNS固态硬盘性能测试方法有效
| 申请号： | 202211608888.8 | 申请日： | 2022-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN115966247B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 李维祥;胡博;刘兴斌 | 申请（专利权）人： | 武汉麓谷科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人： | 张腾 |
| 地址： | 430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东街道大学园*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种ZNS固态硬盘性能测试方法，首先采用分析模块对样本硬盘中的数据组成进行分析，得到硬盘中存储的各种数据类型的占比，根据所述占比对应的配置测试数据包，然后利用Linux系统的FIO性能测试，在基本测试环境测试ZNS固态硬盘读写性能，验证ZNS固态硬盘特定场景的标称性能。本发明通过配置与用于应用场景相同的基本测试环境，保证了最终性能与特定用户场景的实际性能表现一致，提高了ZNS固态硬盘选型、测试结果的有效性和真实性。进一步，本发明简化测试系统，只需要搭建Linux 5.15以上内核的系统，就可以测试ZNS固体硬盘的读写特性；同时提供了完整的测试报告，清晰展示多种场景下的读写性能，便于使用者比较选型。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 zns 固态 硬盘 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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