[发明专利]一种多参数监护仪测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211609447.X 申请日: 2022-12-14
公开(公告)号: CN116246764A 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 陈春芳;王文丹;唐翡;陈成新;卢瑞祥;索彦彦;康江云;杜江齐;张晓庆;吴国策;涂慧敏;袁青;邓丽;鲍春娇;陈仟仟 申请(专利权)人: 深圳市计量质量检测研究院
主分类号: G16H40/40 分类号: G16H40/40;A61B5/0205;A61B5/1455;A61B5/318;A61B5/00;H04N23/661
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 李悦
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开一种多参数监护仪测试方法及系统,该方法应用于包括摄像头、处理设备和模拟器的多参数监护仪测试系统,摄像头设置在多参数监护仪的正前方,包括:模拟器生成模拟信号,向多参数监护仪发送模拟信号,向处理设备发送触发信号;处理设备接收来自模拟器的触发信号,根据触发信号生成采集指令,向摄像头发送采集指令;摄像头接收来自处理设备的采集指令,根据采集指令采集监护图像,向处理设备发送监护图像,监护图像包括多参数监护仪根据接收的模拟信号在显示屏上显示的监护信息;处理设备提取监护图像中的监护数据,根据监护数据确定监测误差。本发明实施例,可以提高多参数监护仪的校准效率和准确性。
搜索关键词: 一种 参数 监护 测试 方法 系统
【主权项】:
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