[发明专利]导孔测斜辅助装置在审

专利信息
申请号: 202211618265.9 申请日: 2022-12-15
公开(公告)号: CN116255098A 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 刘瑞生;张俊锋;曾志义;周建忠;高金虎;魏征;于见水 申请(专利权)人: 中国华冶科工集团有限公司
主分类号: E21B17/10 分类号: E21B17/10;E21B47/017;E21B47/022
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 汤迎春;袁文婷
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种导孔测斜辅助装置,用于辅助测斜仪测量导孔的斜度;包括圆柱块体和第一圆台块体,所述第一圆台块体的底面与所述圆柱块体的顶面面积相同并连接,在所述第一圆台块体的顶面沿中轴钻设有穿孔,所述穿孔贯穿所述第一圆台块体和所述圆柱块体;在所述穿孔的周围均匀设置有至少两个落石孔,所述落石孔与所述穿孔平行,且,所述落石孔贯穿所述第一圆台块体和所述圆柱块体;所述测斜仪的杆部可拆卸穿设在所述穿孔内,所述圆柱块体的侧壁与所述导孔的内壁贴合,使所述测斜仪的杆部的中轴与所述导孔的中轴重合。采用本发明能够将测斜仪限位,避免测斜仪在孔内产生较大偏斜,保证了测斜的准确性,也不会妨碍碎石下落。
搜索关键词: 导孔测斜 辅助 装置
【主权项】:
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