[发明专利]一种UV胶缺陷检测方法、系统、设备及介质有效
| 申请号： | 202211631389.0 | 申请日： | 2022-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN115619787B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 程克林;张振 | 申请（专利权）人： | 苏州赫芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/60;G06V10/145;G06V10/82;G06V10/80;G01N21/88 |
| 代理公司： | 苏州思睿晶华知识产权代理事务所(普通合伙) 32403 | 代理人： | 吴碧骏 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种UV胶缺陷检测方法、系统、设备及介质，所述方法包括以下步骤：设置第一光源，基于第一光源获取待检测单元的第一图像；设置不同于第一光源的第二光源，基于第二光源获取待检测单元的第二图像；对第一图像执行元件定位操作，得到检测位置；根据检测位置对第二图像执行基于数据拟合处理的厚度检测操作，得到厚度数据；根据检测位置对第二图像执行基于神经网络的元件缺陷检测操作，得到缺陷数据；基于厚度数据和缺陷数据判断待检测单元的达标情况；本发明能够通过传统机器视觉与人工智能算法相结合的方式，实现电路板定位、UV胶厚度检测以及不同种类UV胶缺陷识别的一体化功能，极大的提高了缺陷检测方法的检测效率及精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 uv 缺陷 检测 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
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