[发明专利]打标位置评估方法、装置及可读存储介质在审
| 申请号： | 202211650592.2 | 申请日： | 2022-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN115740768A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 史进;李佳豪 | 申请（专利权）人： | 西安奕斯伟材料科技有限公司;西安奕斯伟硅片技术有限公司 |
| 主分类号： | B23K26/362 | 分类号： | B23K26/362;B23K26/70 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 金鲜英 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种打标位置评估方法、装置及可读存储介质，一种打标位置评估方法，方法应用于读码器，包括：读码器根据标准标片，确定目标读码区域；读码器在读码工序流程中，基于目标读码区域，判断被读标片上的打标位置是否合格；其中，标准标片是基于标准打标参数以及误差范围参数生产的标片。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 评估 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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