[发明专利]化学气相沉积设备及碳化硅外延层制备方法在审

专利信息
申请号: 202211664731.7 申请日: 2022-12-23
公开(公告)号: CN115896934A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 刘兴昉;杨尚宇;闫果果;王雷;赵万顺;孙国胜;曾一平 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C30B25/02 分类号: C30B25/02;C30B29/36
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 郭梦雅
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种化学气相沉积设备,包括:备样室、操作室、反应室以及取样室。其中,备样室适用于提供放置装载有衬底晶圆片的托盘的空间;操作室,包括:机械手以及陷气阱,机械手适用于抓取备样室中的托盘并输运至对应的反应室;陷气阱适用于排空进入操作室的气体;反应室,包括:多个生长室以及中转室,多个生长室分别适用于提供生长相应外延层的反应空间;中转室适用于在多个生长室同时生长对应的外延层时,对多个托盘提供暂存的空间;取样室,适用于放置装载有反应完成的晶圆片的托盘;其中,操作室配置为设置于化学气相沉积设备的中心,其他各室配置为设置于操作室的周围;操作室与其它各室之间通过阀门连接。
搜索关键词: 化学 沉积 设备 碳化硅 外延 制备 方法
【主权项】:
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