[发明专利]伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202211669365.4 申请日: 2022-12-24
公开(公告)号: CN115857475A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 王卓;刘丹;程炼;李朝波;赵启扬;张培喜;席茂军;杨贤哲;宋长哲 申请(专利权)人: 湖北航天技术研究院总体设计所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 罗成
地址: 430040 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质,伺服机构性能测试方法包括:调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。本发明的伺服机构性能测试方法可根据测试灵活配置,且涉及到的测试设备通用便携。
搜索关键词: 伺服 机构 性能 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质
【主权项】:
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