[发明专利]一种基于下压式SOP测试座的自动测试装置有效

专利信息
申请号: 202211670643.8 申请日: 2022-12-22
公开(公告)号: CN115980401B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 徐振;赵超 申请(专利权)人: 杭州朗迅科技股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 北京一诺通成知识产权代理事务所(普通合伙) 16145 代理人: 龚春娟
地址: 310059 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于下压式SOP测试座的自动测试装置,包括芯片吸取结构、下压结构一、下压结构二、芯片和下压式SOP测试座组成,所述芯片吸取结构由步进电机、吸盘组成,所述步进电机的输出端连接有所述吸盘,所述下压结构一包括滑块、连接板一、连接板二和下压块,所述滑块的一侧固定连接有所述连接板一,所述步进电机安装在所述连接板一上,所述连接板一的一侧连接有所述连接板二,所述下压块位于所述吸盘的一侧对称安装有所述下压块,有益效果:这样的装置操作方便,将下压式SOP测试座下压动作与芯片放置动作可由一个动作完成的装置,降低了成本,增加了机械定位装置,使定位更可靠经济。
搜索关键词: 一种 基于 下压 sop 测试 自动 装置
【主权项】:
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