[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211672766.5 | 申请日： | 2022-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN116228654A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 陶康;周璐;李晶;张博 | 申请（专利权）人： | 浙江华睿科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/74;G06V10/774;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/0455;G06N3/084 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 张洁 |
| 地址： | 310053 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：利用编码器网络对待检测图像进行特征提取，得到多个编码特征向量；将所述多个编码特征向量进行拼接，并利用解码器网络对拼接后的向量进行解码，得到与所述多个编码特征向量分别对应的解码特征向量；对比每个编码特征向量与所述每个编码特征向量对应的解码特征向量，得到多个相似度矩阵；基于所述多个相似度矩阵确定目标相似度矩阵；若所述目标相似度矩阵中存在小于预设阈值的元素，则确定所述待检测图像存在缺陷。通过上述方法，避免了由于缺陷样本获取困难，而对深度学习缺陷检测算法造成影响的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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