[发明专利]一种复合薄膜-基底结构的滑移失效评估方法在审

专利信息
申请号: 202211690928.8 申请日: 2022-12-27
公开(公告)号: CN116305761A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 王辰宇;张博涵;许超;周煜棠;龚浩然;王博 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F30/17;G06F17/16;G06F17/18;G06F17/13;G06F119/14;G06F119/02;G06F111/10;G06F111/08
代理公司: 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 代理人: 刘涛
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种复合薄膜‑基底结构的滑移失效评估方法,首先,通过将复合薄膜建模为无牵引模型,解析地获得复合薄膜的力学参数,参数建立新的本构关系,随后利用新的本构关系得滑移前复合梁‑软基底结构的平衡方程及控制方程,最后通过求解方程可以得到适用于复合薄膜‑软基底结构模型的界面滑移失效判断准则。通过分析模型可以得出,复合薄膜‑软基底结构模型可以退化为平面应变假设下的单层薄膜‑软基底结构模型,而且消除了平面应变模型引入误差的风险。复合薄膜‑基底结构的滑移失效评估方法可以判断复合薄膜‑软基底结构的柔性电子器件界面是否发生滑移失效,更贴近实际工程情况,消除了现有方法的局限性。
搜索关键词: 一种 复合 薄膜 基底 结构 滑移 失效 评估 方法
【主权项】:
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