[发明专利]一种复合薄膜-基底结构的滑移失效评估方法在审
申请号: | 202211690928.8 | 申请日: | 2022-12-27 |
公开(公告)号: | CN116305761A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 王辰宇;张博涵;许超;周煜棠;龚浩然;王博 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F30/17;G06F17/16;G06F17/18;G06F17/13;G06F119/14;G06F119/02;G06F111/10;G06F111/08 |
代理公司: | 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 | 代理人: | 刘涛 |
地址: | 71007*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种复合薄膜‑基底结构的滑移失效评估方法,首先,通过将复合薄膜建模为无牵引模型,解析地获得复合薄膜的力学参数,参数建立新的本构关系,随后利用新的本构关系得滑移前复合梁‑软基底结构的平衡方程及控制方程,最后通过求解方程可以得到适用于复合薄膜‑软基底结构模型的界面滑移失效判断准则。通过分析模型可以得出,复合薄膜‑软基底结构模型可以退化为平面应变假设下的单层薄膜‑软基底结构模型,而且消除了平面应变模型引入误差的风险。复合薄膜‑基底结构的滑移失效评估方法可以判断复合薄膜‑软基底结构的柔性电子器件界面是否发生滑移失效,更贴近实际工程情况,消除了现有方法的局限性。 | ||
搜索关键词: | 一种 复合 薄膜 基底 结构 滑移 失效 评估 方法 | ||
【主权项】:
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