[发明专利]一种基于温度应力的相控阵天线可靠性试验系统和方法在审
| 申请号： | 202211693714.6 | 申请日： | 2022-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN115792415A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 杨鹏;梁平 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 张洋 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于温度应力的相控阵天线可靠性试验系统和方法，涉及相控阵天线可靠性研究领域；其中，相控阵天线可靠性试验系统包括：高温试验箱、控制计算机、直流电源、网络分析仪、温度采集设备和电压监测模块，并以此提出了相控阵天线可靠性试验方法；本发明，通过采取相控阵天线单元通道自动轮循方法测试，形成涵盖相控阵天线所有通道及有源模块的状态信息矩阵，可用于相控阵天线多通道工作状态的健康诊断，结合可靠性试验理论分析，预测相控阵天线可靠性及寿命以及为相控阵天线可靠性寿命试验设计提供方法指南。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 温度 应力 相控阵 天线 可靠性 试验 系统 方法 | ||
【主权项】：
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