[发明专利]一种用于晶体振荡器相位噪声测试的适配器及测试系统在审
| 申请号： | 202211696691.4 | 申请日： | 2022-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN116593792A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 瞿明生;吕翔;孟碧云;刘兴;厉巍;胡天涛;刘成;林宏;石竹君 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 550009 贵州省贵阳市*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种用于晶体振荡器相位噪声测试的适配器及测试系统。该适配器包括：底座A、支架B、屏蔽腔体K、绝缘弹性橡胶垫D、双面印刷电路板E、器件固定座F、盖板G、器件压板H、导轨座I和压紧机构J；屏蔽腔体K上设置有电源端接头、频率控制端接头和使能端接头，分别与晶体振荡器的电源端、频率控制端和使能端电性连接；该适配器适配装载有晶体振荡器，使得晶体振荡器的引脚表面与适配器上对应的引脚表面有效接触。通过本申请，解决了现有技术中夹具或适配器装夹困难，导致无法精确测试晶体振荡器相位噪声的技术问题，达到了简单可靠、使用方便和提升测试晶体振荡器相位噪声精确度的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 晶体振荡器 相位 噪声 测试 适配器 系统 | ||
【主权项】：
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