[发明专利]一种考虑应力集中的脆性材料光学元件激光毁伤评判方法在审
| 申请号： | 202211707676.5 | 申请日： | 2022-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN116183167A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 刘文兵;杨浩;刘全喜;李轶国;岳通;杨美霞;郑志立 | 申请（专利权）人： | 西南技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01N21/95 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘二格 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种考虑应力集中的脆性材料光学元件激光毁伤评判方法，其包括以下步骤：确定强激光辐照目标靶材元件类型，获得材料断裂强度参量；采用显微镜对光学元件表面或亚表面缺陷点形貌和尺寸进行检测，获得缺陷点的横向尺寸w和纵向尺寸d；确定靶激光功率密度，并确定激光波长和辐照时间，对于脉冲激光，进一步确定脉冲宽度和频率；基于光学和热力学理论，建立缺陷结构诱导光学材料内部应力集中的仿真模型，对比分析激光作用区域内不同形状和尺寸的缺陷结构所引起应力大小；选取材料内部应力最大的数值与材料断裂强度参量对比，根据脆性材料断裂准则，评判该激光参数辐照下元件毁伤失效状态。本发明方法可靠，指导性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 考虑 应力 集中 脆性 材料 光学 元件 激光 毁伤 评判 方法 | ||
【主权项】：
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