[发明专利]设备老化测试方法、装置及ATE设备在审
| 申请号： | 202211732275.5 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN116299113A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 吴海涛;许应;鲁志兵 | 申请（专利权）人： | 深圳市辰卓科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R31/28;G01R1/44 |
| 代理公司： | 深圳五邻知识产权代理事务所(普通合伙) 44590 | 代理人： | 胡明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种设备老化测试方法、装置及ATE设备，涉及老化测试技术领域。其中，该方法包括：控制集成电路自动测试机ATE设备进行老化测试，所述老化测试所需的测试温度条件由所述ATE设备自身产生的热量提供；在所述老化测试中，对所述ATE设备的工作温度进行监测，得到所述ATE设备的工作温度；若所述ATE设备的所述工作温度不满足所述测试温度条件，则调整所述ATE设备的所述工作温度，使调整后的所述工作温度满足所述测试温度条件。本发明实施例可以解决相关技术中存在的ATE设备进行老化测试时需要使用高温老化房的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 老化 测试 方法 装置 ate | ||
【主权项】：
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