[实用新型]一种Wafer与Tape Wafer通用顶升机构及具有其的等离子清洗机有效
申请号: | 202220006593.2 | 申请日: | 2022-01-05 |
公开(公告)号: | CN216671598U | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 高友浪;张翔 | 申请(专利权)人: | 深圳市轴心自控技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;B08B7/00 |
代理公司: | 深圳众邦专利代理有限公司 44545 | 代理人: | 王红 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区桂月路*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本实用新型公开了一种Wafer与Tape Wafer通用顶升机构及具有其的等离子清洗机,包括底板,所述底板顶面中部设置有晶圆支撑机构,对应所述晶圆支撑机构中部在所述底板上垂直贯穿设置有顶升机构,所述顶升机构连接所述晶圆支撑机构,所述晶圆支撑机构上方设置有蓝膜支撑机构;相对于现有技术的有益效果是,采用上述方案,本实用新型不但能使得平台同时能生产Wafer,还可以生产Tape Wafer,同时Tape Wafer上的DAF不受损坏,升降机构将Wafer支撑台在垂直方向上提升与下降,保证Tape Wafer和Wafer与Plasma的清洗高度在1mm以内,提升半导体领域的生产工艺和良品率,具有很好的市场应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 wafer tape 通用 机构 具有 等离子 清洗 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市轴心自控技术有限公司,未经深圳市轴心自控技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202220006593.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种铣挖机用铣刨毂传动密封结构
- 下一篇:一种貉饲料粉碎装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造