[实用新型]一种电子存储产品高低温老化测试设备有效
| 申请号： | 202220102865.9 | 申请日： | 2022-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN217238240U | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 丁美锋 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人： | 丁桂红 |
| 地址： | 226399 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及老化测试设备技术领域，具体为一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：测试箱主体，所述测试箱主体的内部上方开设有低温老化室，所述测试箱主体的内部下方开设有高温老化室，所述高温老化室的前端活动设有第二防护门，所述低温老化室的前端活动设有第一防护门；滑槽，其开设在所述低温老化室的内壁，所述滑槽的内部活动设有检测托板，所述检测托板的左右两壁后端固定设有滑轨；固定板，其活动设在所述检测托板的上方，所述固定板的一端活动设有弹簧转轴，所述固定板的内壁固定设有防护垫。本实用新型通过第二防护箱内部制冷机的工作，可以通过制冷铜管对低温老化室进行快速降温，以此可以在低温老化室内部进行低温测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 存储 产品 低温 老化 测试 设备 | ||
【主权项】：
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