[实用新型]适用于双方向检测的集成IC分段轨道有效

专利信息
申请号: 202220118692.X 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN216847492U 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 胡冬 申请(专利权)人: 四川明泰微电子科技股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 代理人: 杨春
地址: 629099 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种适用于双方向检测的集成IC分段轨道,包括:基座,其顶面中间沿长度方向设有贯通两端的导轨槽,导轨槽中部设有承载部以及一对从导轨槽表面贯通至基座底面的第一贯通槽,一对第一贯通槽分别位于承载部前侧和后侧,且平行于基座宽度方向,承载部前侧和后侧分别设有第二贯通槽,第二贯通槽从基座顶面贯通至基座底面;上架,设于基座上,上架包括工型架,工型架包括与导轨槽平行设置的中间杆以及垂直设于中间杆两端的边杆,各边杆的端部底面均设有支杆,支杆设于基座顶面,中间杆底部向下凸起形成有凸起条。对定位的集成IC颗粒提供两个方向的镂空视角,便于同时进行两个方向的图像采集检测,对于来料、定位、出料,可以有效进行限位控制。
搜索关键词: 适用于 双方 检测 集成 ic 分段 轨道
【主权项】:
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