[实用新型]一种反偏测试电路和测试装置有效
| 申请号： | 202220295527.1 | 申请日： | 2022-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN217181115U | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 徐维 | 申请（专利权）人： | 南通尚阳通集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 田甜 |
| 地址： | 226000 江苏省南通市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请适用于电子器件测试领域，提供了一种反偏测试电路和测试装置，所述反偏测试电路包括第一测试电路、第二测试电路和开关单元；所述第一测试电路与智能功率模块连接，用于对所述智能功率模块中的上组IGBT进行反偏测试；所述第二测试电路与所述智能功率模块连接，用于对所述智能功率模块中的下组IGBT进行反偏测试；所述开关单元分别与所述第一测试电路和所述第二测试电路连接，用于将所述反偏测试电路切换到所述第一测试电路或所述第二测试电路。所述反偏测试电路对智能功率模块内部的IGBT进行反偏测试，可以解决传统IGBT模块的高温反偏测试方案无法满足智能功率模块的反偏测试要求的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 装置 | ||
【主权项】：
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