[实用新型]一种半自动微调刻度卷尺检测平台有效

专利信息
申请号: 202220692668.7 申请日: 2022-03-29
公开(公告)号: CN217032228U 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 张明;邵建中;董美霞;郑昊;董开元;袁虹伟;张晓莉;柯双双;程飞 申请(专利权)人: 黄石市计量检定测试所
主分类号: G01B3/10 分类号: G01B3/10
代理公司: 黄石市三益专利商标事务所 42109 代理人: 李元刚
地址: 435000 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种半自动微调刻度卷尺检测平台,包括:机架,所述机架上方设有检测台,所述检测台上设有标准钢卷尺,所述标准钢卷尺前端设有基准固定座;所述基准固定座一侧设有滑槽,所述滑槽内设有与之滑动连接的可调固定座;所述可调固定座下部设有驱动机构;所述驱动机构用于驱动可调固定座在滑槽内滑动;本实用新型解决了现有技术中需要多次反复装夹才能对零以及检测精度误差大的问题;本实用新型具有结构简单,操作方便;利用驱动机构带动固定板在滑槽上滑动,直到待检钢尺与标准钢卷尺对零成功,具有微调功能,实现了一次装夹后,利用驱动机构对固定板位置的微调就能对零成功;具有导向机构,保证检测的精度大大提高的效果。
搜索关键词: 一种 半自动 微调 刻度 卷尺 检测 平台
【主权项】:
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