[实用新型]一种电子元器抗老化测试用测试柜有效
| 申请号： | 202221067173.1 | 申请日： | 2022-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN217425481U | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 杨良春;赵永峰 | 申请（专利权）人： | 安徽信诺达微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) 11947 | 代理人： | 汤镇宇 |
| 地址： | 233000 安徽省蚌埠市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型涉及电子元器领域，尤其是涉及一种电子元器抗老化测试用测试柜，包括柜体，所述柜体的内壁焊接有等距离分布的隔板，且隔板的顶部外壁安装有等距离分布的观察组件，所述柜体的顶部外壁一侧安装有控制器，且柜体的底部内壁安装有加热结构，所述柜体的底部一侧外壁开设有进气孔，且隔板的顶部外壁位于观察组件处均安装有摄像头，所述柜体的的一侧内壁安装有回流管，且柜体远离回流管的一端内壁安装有三根进气管。本实用新型通过柜体、分隔板、放置盒和摄像头实现，不同分隔板上的放置盒进行不同温度下的老化实验，摄像头配合玻璃盖进行观察，便于进行老化实验，提高实验效果，便于对照。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 元器抗 老化 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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