[实用新型]滑动测试盖有效
| 申请号： | 202221261764.2 | 申请日： | 2022-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN217931731U | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 陈伟;侯燕兵;王传刚;贺涛;王强;金永斌;丁宁;朱伟 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州汇诚汇智专利代理事务所(普通合伙) 32623 | 代理人： | 庄米雪 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种滑动测试盖，涉及半导体集成电路的芯片测试领域，包括测试盖，所述测试盖为中空的，所述测试盖上转动连接有旋钮，所述旋钮的下方设置有下压组件，所述测试盖的下方设置有滑动轨道，所述测试盖在滑动轨道上水平滑动，形成两个工位，分别为休止工位和测试工位。本实用新型中旋钮按钮能够带动压块向下移动，从而带动芯片向下移动到测试插座上，对芯片进行性能测试，本申请中测试盖能够在滑动轨道上左右滑动，实现上料和测试自由切换，本申请适用于机械手完全自动控制的场所，提高了工作效率、降低了人工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 滑动 测试 | ||
【主权项】：
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