[实用新型]一种多角度半导体检测设备有效
| 申请号： | 202221358987.0 | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN217846535U | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 王赫龙 | 申请（专利权）人： | 标景精密科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;G01R1/02;F16M11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型属于半导体技术领域，具体的说是一种多角度半导体检测设备，包括工作台、观测仪器、支撑箱和支撑机构；所述工作台顶部对称设置有两个立柱；两个所述立柱之间设置有横杆；所述观测仪器固接在横杆底部；所述支撑箱固接在工作台顶部；所述支撑机构设置在支撑箱内部；所述支撑机构包括滑杆、滑块、支撑连杆、置物板、第一弹簧和调节杆；所述滑杆两端均固接在支撑箱内壁；所述滑块滑动连接在滑杆外壁；所述支撑连杆一端铰接在滑块侧壁，另一端铰接在置物板底部；所述支撑连杆以滑块为轴对称设置有两个；所述置物板设置在滑块顶部上方；通过设置支撑机构，方便对半导体的检测角度进行调节，从而有助于提高对半导体的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 角度 半导体 检测 设备 | ||
【主权项】：
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