[实用新型]芯片测试系统及芯片测试装置有效
| 申请号： | 202221637378.9 | 申请日： | 2022-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN217766725U | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 焦继业;刘俊波;李辉;王暾烜 | 申请（专利权）人： | 西安恩狄集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 710075 陕西省西安市高新*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种芯片测试系统，包括上位机程序、测试主板和测试子板；所述上位机程序与所述测试主板通过导线连接，所述测试主板与所述测试子板通过导线连接；一个上位机程序可同时控制1～4个测试主板；一个测试主板可同时与1～8个测试子板连接；一个测试子板上最多同时焊接32颗待测芯片，每颗待测芯片都有独立的ID。该测试系统降低了测试主板的硬件要求，还可同时测试多颗芯片，还可在线监测和调整芯片的测试项，应用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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