[实用新型]一种半导体测试治具

摘要

本实用新型公开了一种半导体测试治具，涉及半导体制造技术领域，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片。本实用新型设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定。