[实用新型]一种芯片测试机旋转机构有效
| 申请号： | 202221977951.0 | 申请日： | 2022-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN218298296U | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 李维繁星 | 申请（专利权）人： | 弘润半导体（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海秋冬专利代理事务所(普通合伙) 31414 | 代理人： | 张月 |
| 地址： | 215104 江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试机旋转机构，包括测试装置主体、支撑架与检测探头，所述测试装置主体的两侧安装有支撑架，且支撑架的顶端安装有检测探头，所述支撑架的侧面设置有旋转机构，所述旋转机构包括固定条，所述支撑架的侧面底端固定连接有固定条，所述支撑架的侧面顶端固定连接有挤压块，所述测试装置主体的表面固定连接有支撑杆。本实用新型通过设置有带动齿轮与限位框，通过测试装置主体可以带动支撑杆进行移动，当带动齿轮与固定条的表面相啮合时，可以使带动齿轮带动固定转轴转动，这时限位框会在两组支撑杆之间进行旋转，从而可以有效的方便将芯片进行翻面，方便检测探头对芯片的正反两面进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 旋转 机构 | ||
【主权项】：
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