[发明专利]用于测量弯曲玻璃板的几何形状的方法和设备

摘要

一种用于在至少200°C的温度下测量弯曲玻璃板（1）的几何形状的方法，所述玻璃板具有第一侧（I）和第二侧（II），其中a）将具有第一波长（λM）的测量激光器（L）的辐射对准所述第一侧（I）上的测量点（P），并且利用第一探测器（6）探测辐射回的辐射（B），并且确定测量点（P）和激光器（L）之间的所测量的间距h，b）将具有不同于所述第一波长（λM）的第二波长（λR）的参考激光器（LR）的辐射对准漫反射参考样品（5）上的具有距所述参考激光器（LR）的已知额定间距f的参考点（R），并且利用第二探测器（7）探测辐射回的参考辐射（BR），并且确定参考点（R）和参考激光器（LR）之间的参考间距r，c）确定所述参考间距r和所述额定间距f之间的差，并且从所测量的间距h中减去所述差，使得获得经校正的间距d，d）对于至少两个测量点和同样多的参考点执行步骤a）至c），并且从至少两个经校正的间距中确定所述至少两个测量点的空间位置。