[发明专利]用于清洁用于EVU光刻系统的部件的表面的方法在审

专利信息
申请号: 202280009114.5 申请日: 2022-01-04
公开(公告)号: CN116685717A 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: C·阿斯法尔格;K·布劳恩;R·温特;J·格里贝尔;C·海涅;R·贝姆;O·达赫瓦尔德 申请(专利权)人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
主分类号: C23G5/036 分类号: C23G5/036
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王蕊瑞
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种清洁用于EUV光刻系统的部件(25)的表面(26)的方法,包括:在将部件(25)集成到EUV光刻系统中之前,清洁部件(25)的表面(26)以从表面(26)去除污物(27)。部件(25)的表面(26)的清洁包括:分析部件(25)的表面(26)以识别部件(25)的表面(26)处的氢挥发性污物(27),以及在至少一个清洁步骤中从部件(25)的表面(26)去除氢挥发性污物(27)。
搜索关键词: 用于 清洁 evu 光刻 系统 部件 表面 方法
【主权项】:
暂无信息
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