[发明专利]用于电磁场检测器的控制器在审
申请号: | 202280017635.5 | 申请日: | 2022-02-16 |
公开(公告)号: | CN116888485A | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | L·布西;F·伯顿;A·温特伯恩;M·门切蒂 | 申请(专利权)人: | 英国电讯有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李艳芳;赵鹏 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供了一种控制电磁场检测器的方法,其中,该电磁场检测器被配置成:沿第一探测信号路径和第二探测信号路径以探测频率向光学接收器发送探测信号,其中,第一探测信号路径穿过传输介质,并且探测频率被设定成将传输介质的电子从基态激发到第一激发态;沿第一耦合信号路径以耦合频率发送耦合信号,其中,第一耦合信号路径在传输介质中的第一重叠区段中与第一探测信号路径重叠,其中,耦合频率被设定成将传输介质的电子激发到预定激发态,以便在传输介质中引起电磁感应透明EIT效应,使得传输介质处的入射电磁场造成传输介质中的第一重叠区段处的折射率的变化,使得第一探测信号路径与第二探测信号路径之间存在光路长度差的变化;在探测信号的第一路径经过传输介质的第一重叠区段之后,组合探测信号的第一路径与探测信号的第二路径,使得第一重叠区段处的入射电磁场在光学接收器处可检测为探测信号的经组合的第一路径和第二路径的强度变化,强度变化是由第一探测信号路径与第二探测信号路径之间的光路长度差的变化造成的,该方法包括以下步骤:使第一相移施加至第二探测信号路径,以造成探测信号的经组合的第一路径和第二路径的强度变化的差异;获得指示要向第二探测信号路径施加的第二相移的数据,以便增加探测信号的经组合的第一路径和第二路径的强度变化,其中,第二相移可根据由第一相移造成的探测信号的经组合的第一路径和第二路径的强度变化的差异来确定;以及使第二相移施加至第二探测信号路径。 | ||
搜索关键词: | 用于 电磁场 检测器 控制器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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