[发明专利]电磁场检测器在审
| 申请号： | 202280017787.5 | 申请日： | 2022-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN116940852A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | F·伯顿;M·门切蒂;L·布西 | 申请（专利权）人： | 英国电讯有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 师玮;赵鹏 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供了一种检测电磁场的方法和用于5执行该方法的装置，该方法包括以下步骤：以探测频率将探测信号沿第一探测信号路径和第二探测信号路径发送到光接收器，其中，第一探测信号路径穿过传输介质，并且探测频率被设置为将传输介质的电子从基态激发到第一激发态；以耦合频率沿第一耦合信号路径发送耦合信号，其中，第一耦合信号路径与第一探测信号路径在传输介质中在第一重叠区段中重叠，其中，耦合频率被设置为将传输介质的电子激发到预定激发态，以在传输介质中诱导出电磁诱导透明EIT效应，使得传输介质处的入射电磁场引起传输介质中在第一重叠区段处的折射率的变化，使得第一探测信号路径与第二探测信号路径之间的光路长度差发生变化；在探测信号的第一路径通过传输介质的第一重叠区段之后，将探测信号的第一路径与探测信号的第二路径组合；以及在光接收器处监测探测信号的所组合的第一路径和第二路径的强度，以检测传输介质的第一重叠区段处的入射电磁场作为由第一探测信号路径与第二探测信号路径之间的光路长度差的变化引起的强度变化。25图(2)为摘要附图。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁场 检测器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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