[发明专利]超导带材微观结构置样方法在审
| 申请号： | 202310002077.1 | 申请日： | 2022-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN116148007A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 朱佳敏;甄水亮;陈思侃;张超;高中赫;马化韬;盛杰;吴蔚;王臻郅;丁逸珺 | 申请（专利权）人： | 上海超导科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32;G01N21/84;G01N23/2251;G01N23/20;G01B11/24;G01N23/04;G01Q60/24;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 祁春倪 |
| 地址： | 201207 上海市浦东新区自由*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于超导带材微观结构置样方法，包括：步骤1：用金属层对超导带材进行封装；步骤2：分离预设长度的封装在超导带材两侧的金属层；步骤3：固定超导带材和靠近超导层一侧的金属层，分离靠近所述超导带材基带层一侧的金属层；步骤4：从所述超导带材上分离所述超导带材的超导层和缓冲层；步骤5：对分离出的所述组合层的超导层或缓冲层进行置样；步骤6：用检测设备对置样的所述超导层或缓冲层进行观测。与现有技术相比，本发明经过解刨，各个膜层结构保存完好，有利于后期的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 微观 结构 方法 | ||
【主权项】：
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