[发明专利]一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法在审

专利信息
申请号: 202310008070.0 申请日: 2023-01-04
公开(公告)号: CN116245725A 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 李根;李泷杲;黄翔;周蒯;楼佩煌;宋允辉;钱晓明 申请(专利权)人: 南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06N3/08;G06T5/20
代理公司: 苏州知睦专利代理事务所(普通合伙) 32627 代理人: 康进广
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法,所述用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法包括步骤如下:S1:首先生成用于训练神经网络的孔轴装配超分辨率图像训练数据集;S2:构造用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率神经网络结构,本发明一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法,设计了针对孔轴结构图像的超分辨率数据采集方法,解决了降采样数据集带来的训练效果不佳的问题;提出了以EEDBB作为核心结构的EESR,新的超分辨率网络结构在提升位姿测量精度上具有优势。
搜索关键词: 一种 用于 高精度 装配 测量 分辨率 图像 构建 方法
【主权项】:
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