[发明专利]基于图形算法的离散元孔隙率计算与插值优化方法及系统在审
| 申请号： | 202310011466.0 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN116050231A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 刘聪;周宗青;褚开维;高成路;屠文锋;李刚;王利戈;刘玉英;孙益鑫 | 申请（专利权）人： | 山东大学 |
| 主分类号： | G06F30/25 | 分类号： | G06F30/25;G06F30/23;G06T17/20;G06F111/10 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 闫圣娟 |
| 地址： | 250061 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本公开涉及岩土数值仿真技术领域，提出了基于图形算法的离散元孔隙率计算与插值优化方法及系统，首先采用Delaunay三角网格剖分技术以离散颗粒点集坐标为结点进行三角面/体网格剖分，然后Voronoi算法构建泰森多边形，同时采用图形算法计算当前多边形的孔隙率，并判断是否需要进一步的插值优化处理，从而实现整个离散元计算数据的均匀连续化处理与光滑性展示。本发明可克服了当前离散元计算中颗粒展示效果差等问题，基于Voronoi多面体图形算法自动计算局部孔隙率，并定量判别是否需要插值优化处理，可实现非均匀离散元颗粒信息的均匀连续化优化处理，适用性和准确性得到了大大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 图形 算法 离散 孔隙率 计算 优化 方法 系统 | ||
【主权项】：
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