[发明专利]颗粒物进样装置、气溶胶质谱仪、单颗粒直径测量方法在审
| 申请号： | 202310022206.3 | 申请日： | 2023-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN116072506A | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 粟永阳;韦冠一;汪伟;徐江;李志明 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04;H01J49/26;H01J49/00;G01N1/24;G01N15/02;G01N27/62 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐秦中 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于一种气溶胶进样及颗粒测量方法，为解决单颗粒气溶胶质谱仪测量颗粒直径时，针对环境气压波动和进样口堵塞的不利影响，现有的校正方法拟合参数随条件变化，且不能克服气压波动或进样口堵塞对粒径标定曲线不利影响的技术问题，提供一种颗粒物进样装置、气溶胶质谱仪、单颗粒直径测量方法，可对进入装置腔内的环境气溶胶进行连续可控的稀释调节，适用于负压到正压范围。另外，若空气动力学透镜进口气压因环境气压波动或进样口堵塞而发生变化，还可利用空气动力学透镜上游装置腔内的气压监测值对颗粒测量直径进行自动校正，在测定粒径标定曲线时，仅需测量同一大小颗粒在不同气压条件下的飞行时间即可。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 物进样 装置 气溶胶 质谱仪 直径 测量方法 | ||
【主权项】：
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