[发明专利]样品架、太赫兹时域光谱系统及其测量样品的方法在审

专利信息
申请号: 202310028132.4 申请日: 2023-01-09
公开(公告)号: CN116242800A 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 徐文;秦健;王秋仅;肖宜明;李浩文 申请(专利权)人: 深圳网联光仪科技有限公司
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586;G01N21/01
代理公司: 深圳市特讯知识产权代理事务所(普通合伙) 44653 代理人: 吴汗
地址: 518000 广东省深圳市罗湖区清水河*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种样品架、太赫兹时域光谱系统及其测量样品的方法,样品架包括容器部分和支架部分,所述容器部分包括圆形背板以及围绕所述圆形背板设置的金属圈,且所述圆形背板与所述金属圈之间间隙配合,所述圆形背板的中心设置有贯穿孔;所述支架部分包括底座,设置在所述底座上的伸缩杆,与所述伸缩杆的顶端转动连接的夹持件,所述夹持件上设置有与所述金属圈轮廓适配的弧形缺口,所述金属圈安装在所述弧形缺口上。本发明的样品架在使用时,先将样品粘接在圆形背板上,由于圆形背板与金属圈之间是间隙配合,所以可以通过移动圆形背板方便样品的对焦,此外,本发明的样品架还可以进行高度和角度的调节,降低了太赫兹时域光谱光路搭建的难度。
搜索关键词: 样品 赫兹 时域 光谱 系统 及其 测量 方法
【主权项】:
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