[发明专利]一种固态硬盘用高精密封装测试装置在审
| 申请号： | 202310031472.2 | 申请日： | 2023-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN116031693A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 唐明星;罗锡彦;潘峰;舒雄 | 申请（专利权）人： | 深圳市晶封半导体有限公司 |
| 主分类号： | H01R13/52 | 分类号： | H01R13/52;H01R13/629;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785 | 代理人： | 陈裕恒 |
| 地址： | 518115 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种固态硬盘用高精密封装测试装置，具体涉及固态硬盘测试装置技术领域，包括测试底座；硬盘放置槽；支架；气缸；顶针安装座；PIN顶针；移动座；擦拭块；平移部件，用于驱动所述移动座水平移动，进而使得所述擦拭块移动过程中能够对固态硬盘上的触点表面进行擦拭。由平移部件驱动移动座水平移动，使得擦拭块水平移动并对固态硬盘上的触点表面进行擦拭处理，另外擦拭块移动到位后，顶针安装座将由避空槽穿出，进而使PIN顶针抵触固态硬盘的触点，由于PIN顶针接触到固态硬盘触点前，擦拭块能够对固态硬盘触点进行擦拭，因此能够避免固态硬盘触点表面附着异物，进而导致PIN顶针与固态硬盘触点产生接触不良的现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 精密 封装 测试 装置 | ||
【主权项】：
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