[发明专利]一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质在审
| 申请号： | 202310047190.1 | 申请日： | 2023-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN116030019A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 彭定明;梁为民;刘国义 | 申请（专利权）人： | 重庆市科之拓视觉科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N21/88;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/00;G06T5/30;G06T7/90 |
| 代理公司： | 广东良马律师事务所 44395 | 代理人： | 李良 |
| 地址： | 402760 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种镭射膜瑕疵检测方法、装置、系统及介质，包括：获取待检测的镭射膜图像；对镭射膜图像进行条纹分割处理，确定镭射膜图像中的明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域；按预设检测策略分别对明条纹区域、暗条纹区域以及条纹过渡区域进行瑕疵检测，得到各个区域的瑕疵检测结果，预设检测策略用于确定各个区域对应的瑕疵检测方式；根据各个区域的瑕疵检测结果，标记并展示镭射膜图像的瑕疵区域。通过对具有明暗相间条纹的镭射膜图像进行条纹分割，针对不同的条纹区域分别进行针对性的瑕疵检测，可消除不均匀光照对图像的影响且保留了原始图像的特征信息，降低了瑕疵检测的误判或漏判，有效提高了镭射膜瑕疵检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 镭射 瑕疵 检测 方法 装置 系统 介质 | ||
【主权项】：
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