[发明专利]用于无需对准的自旋和轨道角动量同时检测的超表面器件及检测方法在审

专利信息
申请号: 202310056904.5 申请日: 2023-01-19
公开(公告)号: CN116125560A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 罗先刚;陈琰;蒋孟娜;张飞;蒲明博;李雄;马晓亮;赵泽宇 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种用于无需对准的自旋和轨道角动量同时检测的超表面器件及检测方法,超表面器件自下而上依次包括:衬底;超构原子层,包括周期性排布的超构原子;超表面器件通过几何相位和传输相位协同调控,分别向待检测光束的左旋圆偏振分量和右旋圆偏振分量施加镜像对称的抛物线光栅型相位调控,使得待检测光束经超表面器件调制后的衍射光斑呈现待检测光束的自旋角动量信息和轨道角动量信息,待检测光束的自旋角动量信息和轨道角动量信息不因待检测光束的位置偏移而改变。上述方法采用上述超表面器件进行自旋角动量和轨道角动量的同时检测。本发明实现高阶涡旋光及矢量光的检测,体积小巧、衍射距离短,能量利用率高,易于与探测器集成。
搜索关键词: 用于 无需 对准 自旋 轨道角动量 同时 检测 表面 器件 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310056904.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top