[发明专利]一种生成校验数据的装置、方法、系统、设备及介质在审
申请号: | 202310065934.2 | 申请日: | 2023-01-17 |
公开(公告)号: | CN116069550A | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 李天骥;沈贽;匡启和;郑茳;肖佐楠 | 申请(专利权)人: | 苏州国芯科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G06F7/498 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 史翠 |
地址: | 215011 江苏省苏州市高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请公开了一种生成校验数据的装置、方法、系统、设备及介质,涉及数据处理技术领域。该装置中地址生成器与系数生成器连接,用于在接收到存储于RAID的数据盘中的数据时,根据RAID的当前工作模式和RAID的校验盘当前位置读写数据,并输出读写数据时对应的读地址或写地址;并通过与Galois累加器连接的系数生成器输出系数,其中,Galois累加器中至少设置两个GF Mult乘法器,用于并行生成校验数据。由于GF Mult乘法器Galois累加器使用了经过系数生成器运算化简之后的系数进行乘法运算,避免了多次读取数据盘中的数据的操作,且并行处理数据降低了读取数据负载,进一步降低了存储器带宽的浪费。 | ||
搜索关键词: | 一种 生成 校验 数据 装置 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】:
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