[发明专利]基于单片机的RAM模块检测方法、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310070561.8 申请日: 2023-01-11
公开(公告)号: CN116259356A 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 邓闯;董金盛;高保华;刘运涛;徐勤耀;张建华 申请(专利权)人: 青岛海尔空调器有限总公司;青岛海尔空调电子有限公司;海尔智家股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 赵丹;刘芳
地址: 266101 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明属于家电产品控制技术领域,具体涉及一种基于单片机的RAM模块检测方法、设备及存储介质。该方法包括:根据单片机的运转速率和程序运行时长阈值,获取检测运行时长;根据检测运行时长,分别将缓冲区域、通用区域和堆栈区域分别划分为多个缓冲子区域、多个通用子区域和多个堆栈子区域;依次检测每一区域内的每一子区域,并在检测出异常结果时生成并播放报警信息且停止检测。本申请的方法,利用设备程序运行间隙,且不额外增加设备的上电运行时长,实现RAM的分段、分时、循环不间断的检测,该检测过程伴随着设备的整个生命周期,因而更加可靠,并且不会增加额外的设备硬件电路,从而不增加设备配置成本。
搜索关键词: 基于 单片机 ram 模块 检测 方法 设备 存储 介质
【主权项】:
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