[发明专利]一种基于分子束外延的InGaAs分层线性渐变异变缓冲层的外延方法在审

专利信息
申请号: 202310081116.1 申请日: 2023-01-18
公开(公告)号: CN116191202A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 张英杰;李勇;金运姜 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343;C30B25/18;C30B25/16;C30B29/40;C30B25/10
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 高棋
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于分子束外延的InGaAs分层线性渐变异变缓冲层的外延方法,包括以下步骤:S1:确定具体In组分总的变化范围和In线性变化的总厚度,并依据In组分的变化速率计算出回退层的回退组分;S2:将InGaAs线性渐变缓冲层进行分层设计,确定整个分层的厚度;S3:确定In组分在实际外延后的数值,根据实际外延后的数值调整步骤S2中In组分和厚度;S4:确定InGaAs各渐变分层的生长速率;S5:根据分层的厚度和InGaAs各渐变分层的生长速率,外延InGaAs分层线性渐变的异变缓冲层。本发明实现了InxGa1‑xAs线性渐变缓冲层中In组分的线性变化,同时减少了源炉温度的变化而使In和Ga生长速率变化不确定的影响。
搜索关键词: 一种 基于 分子 外延 ingaas 分层 线性 渐变 缓冲 方法
【主权项】:
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