[发明专利]相控阵天线测试平台、设计方法和计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202310150385.9 | 申请日： | 2023-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN116203325A | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 袁赤诚 | 申请（专利权）人： | 成都恪赛科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘瑾 |
| 地址： | 611730 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了相控阵天线测试平台、设计方法和计算机可读存储介质，该方法包括：构建关于相控阵天线的相控阵天线数字模型；依据相控阵天线数字模型，生成一组相控阵天线目标矩阵；生成一组与相控阵天线目标矩阵相对应的相控阵天线状态矩阵；其中，相控阵天线状态矩阵的参数可通过第二控制接口写入TR组件，并依据新的TR组件更新相控阵天线数字模型的参数，及控制板可通过第二控制接口将相控阵天线数字模型的调整后的参数写入TR组件；本发明通过建立相控阵数字模型和令TR组件可通过对应控制接口被波束控制器和控制板分别控制，从而解决了FPGA程序反复修改导致效率低的问题，及可以对发现的测试问题快速修改验证，大幅加快FPGA程序开发和验证速度。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 天线 测试 平台 设计 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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