[发明专利]一种微流控芯片接触电阻检测设计方法及系统在审
| 申请号： | 202310154776.8 | 申请日： | 2023-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN115980450A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 吴佳;李礼;吴叶楠 | 申请（专利权）人： | 上海威固信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G06F16/25;G06F16/2455;G06F17/10;B01L3/00 |
| 代理公司： | 上海塔科专利代理事务所(普通合伙) 31380 | 代理人： | 张小伟 |
| 地址： | 201799 上海市青*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微流控芯片接触电阻检测设计方法及系统，属于微流控芯片技术领域，括如下步骤：S1：微流控芯片上建立混合单元和用透明材质制成的检测单元，混合单元的入口与输送装置连接，检测单元内部具有平流层状的检测腔，检测腔内设置有接触电阻。为了解决现有的微流控芯片在使用时，不能对微流控芯片接触电阻进行检测，导致不能根据接触电阻变化情形给予及时地调控预警，导致微流控芯片使用效果差，且降低了微流控芯片检测效率的问题，本发明的微流控芯片接触电阻检测设计方法及系统，可对微流控芯片接触电阻进行检测，可根据接触电阻变化情形给予及时地调控预警，使微流控芯片使用效果好，且提高微流控芯片检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微流控 芯片 接触 电阻 检测 设计 方法 系统 | ||
【主权项】：
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