[发明专利]基于缺陷生成的无监督OLED缺陷检测方法有效
| 申请号： | 202310155779.3 | 申请日： | 2023-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN116030038B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 朱云龙;陈殷齐;鲁瑶;郑杨婷;李佩文 | 申请（专利权）人： | 季华实验室 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/149;G06T7/155;G06V10/774 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄恕 |
| 地址： | 528200 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种OLED缺陷样本生成方法、基于缺陷生成的无监督OLED缺陷检测方法及相关设备。该OLED缺陷样本生成方法包括：获得OLED的正样本，并随机生成mask；根据所述mask生成破坏性缺陷和/或结构性缺陷；根据所述破坏性缺陷和/或结构性缺陷融入所述正样本，获得对应的缺陷样本。采用本方法能够随机生成多个缺陷样本，进而提高OLED中缺陷识别率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 缺陷 生成 监督 oled 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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