[发明专利]基于光学显微的一点应变测量方法有效
| 申请号： | 202310167033.4 | 申请日： | 2023-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN115950371B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 张强;代万里;吴培楠;王红英;韩贵雷;蒋斌松 | 申请（专利权）人： | 中国矿业大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京盛广信合知识产权代理有限公司 16117 | 代理人： | 秦全 |
| 地址： | 221116 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光学显微的一点应变测量方法，包括：基于光学显微设备对介质被测点进行高倍率放大摄像或拍照，获得被测点局部范围高像素细观特征图像，在图像中选择若干个特征点，将特征点相连获得特征线段；测量特征线段在初始时刻的线段长度及其与坐标轴正方向夹角，计算夹角的余弦值；测量特征线段在后续某一时刻的线段长度，计算特征线段相比于初始时刻长度的相对变化量；基于一点的应变状态与该点任意方向正应变之间的关系式计算被测点的应变，获得应变测量结果。本发明解决了电阻式应变测量方法应变片覆盖面积大、环境适应性差、测试精度低、不适用用导电液体环境等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光学 显微 一点 应变 测量方法 | ||
【主权项】：
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