[发明专利]金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置及方法在审

专利信息
申请号: 202310171303.9 申请日: 2023-02-28
公开(公告)号: CN116067894A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 薛璐;熊吉川;刘学峰;倪斌;徐彬 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G06T7/00;G01N21/01
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 岑丹
地址: 214409 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置及方法。所述方法为:光源通过滤波器以及起偏器变为单色线偏振光,再经过分束镜与物镜对待检测样品进行照明,样品反射的光经物镜、分束器、波片、检偏器后进入相机,在此过程中计算机驱动电机驱动器控制微型电机转动、选择滤波器的透过波长以及控制相机采集图像。微型电机控制起偏器进行周期性转动,每转动固定角度相机进行一次采图,将带有不同偏振信息的图输入计算机进行处理,获得单波长偏振参数图像,再通过调节滤波器来改变入射光波长,进而得到金纳米阵列的多光谱偏振参数图像。本发明具有效率高、成本低、分辨率高、能实现多维表征等优点。
搜索关键词: 纳米 阵列 光谱 偏振 参数 成像 装置 方法
【主权项】:
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